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对于600 nm以上的波长范围，通过已知色温数据的标准钨灯光源作为来求得发射光谱校正曲线[12]，如图7所示。校正方法是将标定过色温数据的钨灯放入样品室，调整标准电源达到标准钨灯的标定电流工作模式，荧光---检测系统，使标准钨灯达到已知的色温状态。仪器执行发射波长扫描，荧光---检测系统厂家，扫描波长范围为600～900 nm。此时得到的光谱为w（λ）。这样就可以获得600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数m（λ600～900），即式中：m（λ600～900）为600～900 nm仪器发射光谱综合响应特征系数；w（λ）为600～900 nm发射波长扫描光谱；h（λ，t）为色温t时的辐射曲线；t为标准钨灯的色温。

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---产率的测定方法有相对法和法两种。20世纪50年代前后，荧光---检测系统公司，大多使用法来测定---产率。早期的---产率测定方法较繁琐，荧光---检测系统价格，设备复杂，容易引入误差，所以无法形成商品化仪器[2]。后来科研人员大多使用相对法进行---产率的测定。相对法依赖于已知---产率的物质作为测定标准，再分别用荧光分光光度计和紫外可见分光光度计，测定标准和试样的真实发射光谱和激发波长的光密度，就可以推算出试样的---产率。相对法测量---产率对设备要求低，无需测试系统，但其也有明显的局限性，比如，当测定标准和试样的激发光谱差异较大时，就会引起较大的测量误差

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